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Transformational of conventional wafer defect disposition system info web base application to improve manufacturing performance

Material flow in complex manufacturing environment which consist of few hundred steps is highly dependent on effective information flow. Information flow interruption may impact business operations efficiency that caused higher product lead time and poor product quality performance. High dependence...

詳細記述

書誌詳細
第一著者: Mohamed Salleh, Narishah
フォーマット: 学位論文
言語:英語
英語
出版事項: 2013
主題:
T Technology (General)
TS Manufactures
オンライン・アクセス:http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/14467/1/Transformation_Of_Conventional_Wafer_Defect_Disposition_System_into_Web_Based_Application_To_Improve_Manufacturing_Performance025.pdf
http://eprints.utem.edu.my/id/eprint/14467/3/Transformation%20of%20conventional%20wafer%20defect%20disposition%20system%20into%20web%20based%20application%20to%20improve%20manufacturing%20performance.pdf
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