Tan, C. C. R. (2021). Smart control sampling system for metrology tool in semiconductor production line.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tan, Cheerrein Cher Ring. Smart Control Sampling System for Metrology Tool in Semiconductor Production Line. 2021.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Tan, Cheerrein Cher Ring. Smart Control Sampling System for Metrology Tool in Semiconductor Production Line. 2021.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.