Mahdavipour, Z. (2016). Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Mahdavipour, Zeinab. Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation. 2016.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Mahdavipour, Zeinab. Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation. 2016.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.