Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation
Menghasilkan tenaga yang boleh diperbaharui berkuantiti tinggi memerlukan kecekapan yang tinggi dalam fabrikasi produk wafer silikon, yang juga merupakan komponen asas panel solar. Oleh yang demikian, pemeriksaan kualiti yang tinggi untuk wafer solar semasa proses pengeluaran sangat penting. Dala...
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | 学位論文 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
2016
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://eprints.usm.my/41026/ |