Crash Recovery Support For Variable Strength T-Way Test Generation Strategy

Selalunya, cabaran terbesar dalam pengujian perisian berkait dengan hakikat bahawa ia tidak boleh dilaksanakan untuk menguji kesemua parameter-parameter input kerana kekangan-kekangan seperti kos, sumber dan masa. Mempertimbangkan faktor-faktor ini, penguji-penguji perisian perlu melakukan pilihan k...

詳細記述

書誌詳細

第一著者:	Abdullah, Syahrul Afzal Che
フォーマット:	学位論文
言語:	英語
出版事項:	2016
主題:	T Technology TK7870 Electronic packaging
オンライン･アクセス:	http://eprints.usm.my/41030/