Lee, S. C. (2011). Surface And Interface Phonon Polariton Characteristics Of Wurtzite ZnO-Based Semiconductor By Infrared Attenuated Total Reflection Spectroscopy.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lee, Sai Cheong. Surface And Interface Phonon Polariton Characteristics Of Wurtzite ZnO-Based Semiconductor By Infrared Attenuated Total Reflection Spectroscopy. 2011.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Lee, Sai Cheong. Surface And Interface Phonon Polariton Characteristics Of Wurtzite ZnO-Based Semiconductor By Infrared Attenuated Total Reflection Spectroscopy. 2011.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.