Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 学位論文 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
2008
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://eprints.usm.my/8960/ |