Ong, H. Y. (2011). Functional test generation using micro operation fault model.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ong, Hui Yien. Functional Test Generation Using Micro Operation Fault Model. 2011.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Ong, Hui Yien. Functional Test Generation Using Micro Operation Fault Model. 2011.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.