Ong, H. Y. (2011). Functional test generation using micro operation fault model.
Style de citation Chicago (17e éd.)Ong, Hui Yien. Functional Test Generation Using Micro Operation Fault Model. 2011.
Style de citation MLA (9e éd.)Ong, Hui Yien. Functional Test Generation Using Micro Operation Fault Model. 2011.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.