Ooi, C. Y. (2003). Object-oriented test pattern generator and logic simulator for combinational circuits.
Style de citation Chicago (17e éd.)Ooi, Chia Yee. Object-oriented Test Pattern Generator and Logic Simulator for Combinational Circuits. 2003.
Style de citation MLA (9e éd.)Ooi, Chia Yee. Object-oriented Test Pattern Generator and Logic Simulator for Combinational Circuits. 2003.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.