تخطي إلى المحتوى
MyTheses
تغذية راجعة
سلة الكتب:
0
مواد
(ممتلئ)
HOME
MYTHESES
BLOG
AI ASSISTANT
INSTITUTION
GUIDE & TUTORIAL
CONTACT
اللغة
English
Français
日本語
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
हिंदी
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Object-oriented test pattern g...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
أضف إلى سلة الكتب
حذف من سلة الكتب
رابط دائم
Object-oriented test pattern generator and logic simulator for combinational circuits
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Ooi, Chia Yee
التنسيق:
أطروحة
منشور في:
2003
الموضوعات:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
An object-oriented digital circuit simulator
حسب: Khairuddin, Alawidin
منشور في: (1993)
Modified pattern generator of built-in self test for sequential circuits with reduced test time
حسب: Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin
منشور في: (2011)
Scalable diversified antirandom test pattern generation with improved fault coverage for black-box circuit testing
حسب: Alamgir, Arbab
منشور في: (2022)
Simulation of in-memory logic circuit based on probabilistic memristor using LTSPICE
حسب: Ng, Yuh Chyn
منشور في: (2022)
CNFET-based design ternary logic design and arithmetic circuit simulation using HSPICE
حسب: Ee, Poey Guan
منشور في: (2015)