توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Kamisian, I. (2000). Random power supply as a test vector to expose soft defects in CMOS digital circuits.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Kamisian, Izam. Random Power Supply as a Test Vector to Expose Soft Defects in CMOS Digital Circuits. 2000.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Kamisian, Izam. Random Power Supply as a Test Vector to Expose Soft Defects in CMOS Digital Circuits. 2000.