コンテンツを見る
MyTheses
ご意見
ブックカート:
0
件
(満杯)
HOME
MYTHESES
BLOG
AI ASSISTANT
INSTITUTION
GUIDE & TUTORIAL
CONTACT
言語
English
Français
日本語
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
हिंदी
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
A built-in self-testable bit-s...
この資料を引用
この資料をSMS送信
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
図書バッグに追加
図書バッグから削除
パーマネントリンク
A built-in self-testable bit-slice processor / Ibrahim Abubakr M.
書誌詳細
第一著者:
Abubakr M., Ibrahim
フォーマット:
学位論文
出版事項:
1995
主題:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
Verilog design of input/output processor with built-in-self-test
著者:: Goh, Keng Hoo
出版事項: (2007)
Multi-core 16-bit CPUs for PLC processor
著者:: Gan, Chi Qian
出版事項: (2022)
Software-based self-test with scan design at register transfer level for 16-bit RISC processor
著者:: Ang, Kim Chuan
出版事項: (2010)
Design for testability method at register transfer level
著者:: Paraman, Norlina
出版事項: (2016)
VHDL design of A 32-Bit RISC processor core for FPGA implementation
著者:: Marsono, Muhammad Nadzir
出版事項: (2001)