تخطي إلى المحتوى
MyTheses
تغذية راجعة
سلة الكتب:
0
مواد
(ممتلئ)
HOME
MYTHESES
BLOG
AI ASSISTANT
INSTITUTION
GUIDE & TUTORIAL
CONTACT
اللغة
English
Français
日本語
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
हिंदी
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
A built-in self-testable bit-s...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
أضف إلى سلة الكتب
حذف من سلة الكتب
رابط دائم
A built-in self-testable bit-slice processor / Ibrahim Abubakr M.
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Abubakr M., Ibrahim
التنسيق:
أطروحة
منشور في:
1995
الموضوعات:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
الوصف غير متاح.
مواد مشابهة
Verilog design of input/output processor with built-in-self-test
حسب: Goh, Keng Hoo
منشور في: (2007)
Multi-core 16-bit CPUs for PLC processor
حسب: Gan, Chi Qian
منشور في: (2022)
Software-based self-test with scan design at register transfer level for 16-bit RISC processor
حسب: Ang, Kim Chuan
منشور في: (2010)
Design for testability method at register transfer level
حسب: Paraman, Norlina
منشور في: (2016)
VHDL design of A 32-Bit RISC processor core for FPGA implementation
حسب: Marsono, Muhammad Nadzir
منشور في: (2001)