Skip to content
MyTheses
Feedback
書包:
0
items
(滿)
HOME
MYTHESES
BLOG
AI ASSISTANT
INSTITUTION
GUIDE & TUTORIAL
CONTACT
語言
English
Français
日本語
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
हिंदी
全文檢索
題名
作者
主題
索引號
ISBN/ISSN
標簽
檢索
高級檢索
A built-in self-testable bit-s...
引用
發送短信
打印
導出紀錄
導出到 RefWorks
導出到 EndNoteWeb
導出到 EndNote
添加到書包
從書包裡刪除
Permanent link
A built-in self-testable bit-slice processor / Ibrahim Abubakr M.
書目詳細資料
主要作者:
Abubakr M., Ibrahim
格式:
Thesis
出版:
1995
主題:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
持有資料
實物特徵
相似書籍
職員瀏覽
相似書籍
Verilog design of input/output processor with built-in-self-test
由: Goh, Keng Hoo
出版: (2007)
Multi-core 16-bit CPUs for PLC processor
由: Gan, Chi Qian
出版: (2022)
Software-based self-test with scan design at register transfer level for 16-bit RISC processor
由: Ang, Kim Chuan
出版: (2010)
Design for testability method at register transfer level
由: Paraman, Norlina
出版: (2016)
VHDL design of A 32-Bit RISC processor core for FPGA implementation
由: Marsono, Muhammad Nadzir
出版: (2001)