Carbon Doped Silicon Dioxide Low K Dielectric Material.[QC585.75.S55 L732 2004 f rb][Microfiche 7649]

Objektif kajian ini adalah untuk mengkaji keberkesanan mendopkan sebatian karbon keatas SiO2 untuk menghasilkan bahan dielektrik k rendah. The semiconductor industry is entering a new millennium where scientists and engineers are continuing to search for the ideal dielectric material for future c...

Description complète

Détails bibliographiques
Auteur principal: Lim, Alex Ying Kiat
Format: Thèse
Langue:anglais
Publié: 2004
Sujets:
Accès en ligne:http://eprints.usm.my/3087/