Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].

Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلف الرئيسي:	Mohd Yusoff, Mohd Zaki
التنسيق:	أطروحة
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	2008
الموضوعات:	QC350-467 Optics. Light
الوصول للمادة أونلاين:	http://eprints.usm.my/8960/