コンテンツを見る
MyTheses
ご意見
ブックカート:
0
件
(満杯)
HOME
MYTHESES
BLOG
AI ASSISTANT
INSTITUTION
GUIDE & TUTORIAL
CONTACT
言語
English
Français
日本語
中文(简体)
中文(繁體)
اللغة العربية
हिंदी
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
Object-oriented test pattern g...
この資料を引用
この資料をSMS送信
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
図書バッグに追加
図書バッグから削除
パーマネントリンク
Object-oriented test pattern generator and logic simulator for combinational circuits
書誌詳細
第一著者:
Ooi, Chia Yee
フォーマット:
学位論文
出版事項:
2003
主題:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
An object-oriented digital circuit simulator
著者:: Khairuddin, Alawidin
出版事項: (1993)
Modified pattern generator of built-in self test for sequential circuits with reduced test time
著者:: Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin
出版事項: (2011)
Scalable diversified antirandom test pattern generation with improved fault coverage for black-box circuit testing
著者:: Alamgir, Arbab
出版事項: (2022)
Simulation of in-memory logic circuit based on probabilistic memristor using LTSPICE
著者:: Ng, Yuh Chyn
出版事項: (2022)
CNFET-based design ternary logic design and arithmetic circuit simulation using HSPICE
著者:: Ee, Poey Guan
出版事項: (2015)