Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Thesis |
| 语言: | 英语 |
| 出版: |
2008
|
| 主题: | |
| 在线阅读: | http://eprints.usm.my/8960/ |